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		<title>OLED on Warm IR Spot Heating</title>
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				<title>OLED 제조 건조 램프</title>
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				<pubDate>Tue, 09 Jun 2026 01:29:05 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://warm-ir-heater-spot.com/images/1764273a9805a56244015746cb190d47.png&#34; alt=&#34;OLED 제조 건조 램프&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;OLED 리소그래피 라인에서는 드리프트를 허용할 수 없습니다. 포토레지스트 베이크 중 0.5℃ 차이만으로도 크리티컬 치수가 변화하여 마스크 레벨 전체가 폐기될 수 있습니다. 열 예산을 단순한 부가 사항이 아닌 실제 공정 파라미터로 다루는 건조 램프가 필요합니다.&lt;br&gt;&#xA;&lt;strong&gt;내부 핵심 요소&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;우리는 OLED 건조 램프를 석영 인클로저 내 단파장 할로겐 발광체를 중심으로 설계했습니다. 이는 빠른 램프업 NIR을 방출하여 스택을 태우지 않고 포토레지스트 내부에 열을 전달합니다. 웨이퍼 레벨 균일도는 베이크 존 전역에서 ±0.1℃ 이내를 유지해, 소프트 베이크와 하드 베이크 프로파일이 레시피를 정확히 따라갑니다.&lt;br&gt;&#xA;먼지 제어 조립 및 가스 배출이 없는 재질 사용 덕분에 Class 1–100 클린룸 환경에도 적합합니다. 이로 인해 램프 자체에서 발생하는 입자 기여가 공정 규격 이하로 관리됩니다. 또한 시스템은 설정값을 반복해 매일 동일하게 유지해 식각 및 현상 공정의 변동이 발생하지 않습니다.&lt;br&gt;&#xA;&lt;strong&gt;OLED 공정에서의 적용 이유&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;OLED 스택은 얇고 열에 민감합니다. 포토레지스트 베이크 중 온도 초과는 잔류물 생성, 접착 문제, 수율 저하로 이어집니다. 해당 램프는 빠르고 엄격한 온도 제어로 열 침지 시간을 단축시킵니다. 이는 크리티컬 치수(CD) 제어를 강화하고 확률적 결함 발생을 줄이는 결과로 나타납니다.&lt;br&gt;&#xA;또한, 램프가 목표 온도에 빠르게 도달해 진동을 최소화함으로써 에너지 소모도 줄일 수 있습니다. 24시간 연속 가동이 가능하도록 설계되어 불시 정지와 베이크 편차 시 재작업 발생 빈도를 낮춥니다.&lt;br&gt;&#xA;&lt;strong&gt;준비해야 할 사항&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;본 램프는 전용 전원 버스 및 EMI 저감 경로가 필요하며, 이는 리소그래피 장비의 센서에 간섭을 주지 않도록 설계해야 합니다. 특정 책과 웨이퍼 스택에 따른 열점 매핑을 위해 짧은 시운전을 계획하고 컨트롤러에 프로파일을 등록해야 합니다.&lt;br&gt;&#xA;정렬이 완료되면 시스템은 단순 열원 이상의, 반복 가능한 열 모듈로서 작동합니다. 이것이 핵심입니다.&lt;/p&gt;</description>
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